KİMYASAL ANALİZ MİNEROLOJİK ANALİZ MİKRO YAPI ANALİZİ
Kimyasal analiz için XRF cihazı
kompleks numunelerin analizinde, Bordan Uranyuma kadar olan elementlerin kolay ve net bir şekilde tespit edilmesinde kullanılır.
Malzemenin kimyasal bileşimi hakkında elementel, oksit ve özel bileşik olarak bilgi verir. Kantitatif, yarı kantitatif ve standart numuneleri olması koşuluyla tam kantitatif
analiz yapılabilir.
Minerolojik analiz için XRD cihazı
kütle veya toz halindeki malzemelerin içerisinde bulunan fazların tayininde ve miktarında,
kristal boyut ölçümünde,
kristalin/amorf yapı belirlemede, latis parametrelerinin hesaplanmasında, atom pozisyonlarının incelenmesinde kullanılır. Çok az miktardaki numune ile de tahrip olmaksızın
ölçüm yapılabilir.
Mikroyapı analizi için masaüstü SEM cihazı SE, BSE ve EDX detektörlerini kullanarak,
toz ve sıvı hariç kütle halindeki
her malzemenin
topografyası ve morfolojisini,
çizgi analizi, faz tespiti, elementel kompozisyonu
ve haritalama opsiyonu ile kimyasal yapısını, kolay ve kısa bir sürede incelememize
olanak sağlar.
HANGİ CİHAZ VE EKİPMANLARLA
ÇALIŞIYORUZ ?
ERİTİŞ CİHAZI(FÜZYON)
XRF cihazıyla elementel bileşimin tayini için füzyon camının hazırlanmasında kullanılmaktadır,
Cihaz aynı anda 3 adet numune hazırlamaya olanak sağlamaktadır,
Otomatik ateşleme sistemine sahiptir,
Kalibrasyon veya basınçlı havaya ihtiyaç duymamaktadır,
Cihaza bağlı bir sanayi tipi LPG tüpü ile çalışmaktadır,
Maksimum ısı dağılımı (propan): 98 000 Btu / s = 29 kW /s,
Eritiş işlemi esnasında hızlı ve etkili homojenizasyon sağlamaktadır.
ZSX Primus XRF CİHAZI
-
Bor’dan Uranyum’a kadar geniş analiz kabiliyeti
-
500 μm’lik mikro analiz kabiliyeti
-
Alttan ışıma özelliği ile serbest toz analizlerine uygunluk
-
30μ’lük tüp ile ultra hafif element analizi
-
Haritalama özelliği ile topografik sonuçlar ve element dağılımı gözlemleme
Masaüstü XRD MiniFlex 600 CİHAZI
-
Kompakt, Emniyetli radyason kasası
-
Değişken giriş ışın sliti
-
Kolay kurulum ve kullanıcı eğitimi
-
Hizalama gerektirmeyen gonyometre
-
Dizüstü bilgisayar ile kullanım ile
-
Faz tanımlama
-
Kantitatif Faz analizi
-
Yüzde Kristalinite tayini
-
Kristal boyutu ve gerinimi
-
Kafes parametreleri düzeltmesi
-
Rietveld analizi
-
Moleküler yapı tayini yapılabilmektedir.
Masaüstü SEM Phenom ProX CİHAZI
-
Görüntüleme ve analiz için yüksek performanslı Elektron Mikroskobu
-
Işık optik büyütme : 20-135x
-
Elektron max.optik büyütme : 110.000x
-
BSD Dedektörüne sahip, İsteğe bağlı SED kullanılabilir.
-
Cihaza tam entegre EDS analizi ile kimyasal analiz
-
≤10 nm çözünürlük (BSE), ≤8 nm çözünürlük (SE).
-
30 saniye yükleme süresi
-
Şarj azaltma modu
-
Sınıfının en yüksek sayıda X-ışını üreten elektron kaynağı yüksek parlaklıktaki Seryum Hexaboride (CeB6) kaynağı.
-
Ayarlanabilir voltaj seçeneği ile 5, 10 ve 15 kV
-
Element algılama aralığı: C(6) - Am(95)
-
Elementel Haritalama ve Çizgisel Tarama
-
Malzeme özelliğine göre numune tutucuları
XRD Rigaku D / Max2200
-
Yatay bir gonyometre ile donatılmıştır.
-
Tarama hızı 0,002 °/dak ile 100 °/dak arasında değişebilir.
-
Sapma, saçılma ve alma slitleri tamamen otomatiktir ve yazılım içindeki bir grafiksel kullanıcı arayüzü ile kontrol edilir.
-
Cr Kα X-ışınları 2.29 A'nın dalga boyu, Scintag (Cu Kα 1.54 Å) veya Bruker (Co Kα 1.79 Å) cihazlarında yoğun şekilde floresan olabilecek birçok malzeme için uygundur.
-
Kafes parametresindeki küçük değişiklikleri belirlemeye çalışırken daha büyük dalga boyu tercih edilir, çünkü tepe değerleri kafes parametresindeki küçük değişikliklere daha fazla hassasiyet sağlayan daha yüksek 2θ değerlerine kaydırılır.
-
Tepe kaymanın hassasiyeti, artık gerilimi ölçmek ve ikili faz diyagramlarında solvus eğrilerini belirlemek için idealdir.
Bruker D-8 Advance XRD CİHAZI
-
Eşsiz toz kırınımı için Bragg-Brentano geometrisi
-
Optimum polikristal ince film kırınımı için otlatma insidansı geometrisi
-
XRR, 0.1 nm'den 150 nm'ye kadar film kalınlığını belirlemek için. X-ışını reflektometrisi (XRR), X-ışınlarının toplam dış yansımasının etkisini kullanarak ince katmanlı yapılar, yüzeyler ve arayüzleri araştırmak için kullanılan analitik bir tekniktir. Teknik, toplam kalınlığı 20 A ila 1 mm arasında değişen filmler için kullanışlıdır. Filmler tek veya çok katmanlı yapılar olabilir ve ayrı ayrı katmanların kalınlığı, optik sabit düzeltmeler gerekmeden dakikalar içinde belirlenebilir. XRR, epitaksiyel, polikristal veya şekilsiz filmler için çalışır.Reflectometry, diğerlerinin yanı sıra manyetik, yarı iletken ve optik malzemelerdeki tek ve çok katmanlı yapı ve kaplamaları karakterize etmek için kullanılır.
-
Rakipsiz enerji çözünürlüğü ile veri toplanmasını hızlandırmak için LYNXEYE XE-T dedektör ile mikro-kırınım. LYNXEYE XE-T dedektör:
-
Enerji çözünürlüğü <380 eV
Piyasadaki diğer 1D dedektörlerden 4 kat daha iyi! -
Yüksek hızlı veri toplama
Geleneksel nokta dedektör sisteminden 450 kata kadar daha hızlı! -
Floresans ve beyaz ışınımın üstün filtrelenmesi
Kß filtrelerine, aynalarına veya monokromatörlerine ihtiyacınız yoktur! -
Mükemmel çizgi profil şekilleri
Verilerde Kß filtre artefaktı (kalan Kß, emme kenarları) yoktur! -
Üstün tepe-arka oran
En iyi düşük tespit limiti (LLOD) ve miktar belirleme (LLOQ)!
-
Ortam ve ortam dışı koşullar altında amorf ve polikristalin ince film analizine otomatik geçiş fonksiyonu ile en iyi toz XRD performansının performansının kombinasyonu.
-
Mükemmel sayma istatistikleri daha hızlı veri toplanmasına ve daha fazla örnek verimine olanak sağlar
-
Gürültülü düşük açılı arka plan saçılması, büyük bir birim hücreye sahip olan ilaç, kil, zeolit ve diğer örneklerin veri kalitesini büyük ölçüde artırmaz
-
En iyi tepe-arka plan en küçük fazlar için hassasiyeti arttırır
-
DIFFRAC.TOPAS -Rietweld_yazılımı ile kristalin ve amorf fazların tam miktar tayini
Describe your image
Describe your image
Describe your image
Describe your image
ETÜVLER
A.Z. İÇİN FIRIN
Describe your image
Describe your image
Describe your image
Describe your image
Describe your image
Describe your image
YAŞ YÖNTEMLE BOR ANALİZİ
-
Bor bileşiklerindeki B2O3 miktarı Yaş Yöntemle analiz edilmektedir.