top of page
Bu site,
.com
site tasarım platformu ile oluşturuldu. Siz de hemen kendi sitenizi kurun.Hemen Başla

KÄ°MYASAL ANALÄ°Z          MÄ°NEROLOJÄ°K ANALÄ°Z         MÄ°KRO YAPI ANALÄ°ZÄ°

xrf cihaz.PNG
xrd açılım.PNG

Kimyasal analiz için XRF cihazı

kompleks numunelerin analizinde, Bordan Uranyuma kadar olan elementlerin kolay ve net bir ÅŸekilde tespit edilmesinde kullanılır.

 Malzemenin kimyasal bileÅŸimi hakkında elementel, oksit ve özel bileÅŸik olarak bilgi verir. Kantitatif, yarı kantitatif ve standart numuneleri olması koÅŸuluyla tam kantitatif

analiz yapılabilir.

Minerolojik analiz için XRD cihazı

kütle veya toz halindeki malzemelerin içerisinde bulunan fazların tayininde ve miktarında, 

kristal boyut ölçümünde,

kristalin/amorf yapı belirlemede, latis parametrelerinin hesaplanmasında, atom pozisyonlarının incelenmesinde kullanılır. Çok az miktardaki numune ile de tahrip olmaksızın 

ölçüm yapılabilir.

Mikroyapı analizi için masaüstü SEM cihazı      SE, BSE ve EDX detektörlerini kullanarak,

toz ve sıvı hariç kütle halindeki

her malzemenin

topografyası ve morfolojisini, 

çizgi analizi, faz tespiti, elementel kompozisyonu

ve haritalama opsiyonu ile kimyasal yapısını, kolay ve kısa bir sürede incelememize

olanak saÄŸlar.

HANGÄ° CÄ°HAZ VE EKÄ°PMANLARLA

ÇALIÅžIYORUZ ?

​

ERÄ°TÄ°Åž CÄ°HAZI.PNG

ERÄ°TÄ°Åž CÄ°HAZI(FÜZYON)

  • XRF cihazıyla elementel bileÅŸimin tayini için füzyon camının hazırlanmasında kullanılmaktadır,

  • Cihaz aynı anda 3 adet numune hazırlamaya olanak saÄŸlamaktadır,

  • Otomatik ateÅŸleme sistemine sahiptir,

  • Kalibrasyon veya basınçlı havaya ihtiyaç duymamaktadır,

  • Cihaza baÄŸlı bir sanayi tipi LPG tüpü ile çalışmaktadır,

  • Maksimum ısı dağılımı (propan): 98 000 Btu / s = 29 kW /s,

  • EritiÅŸ iÅŸlemi esnasında hızlı ve etkili homojenizasyon saÄŸlamaktadır.

ZSX Primus XRF CÄ°HAZI

  • Bor’dan Uranyum’a kadar geniÅŸ analiz kabiliyeti 

  • 500 μm’lik mikro analiz kabiliyeti

  • Alttan ışıma özelliÄŸi ile  serbest toz analizlerine uygunluk

  • 30μ’lük tüp ile ultra hafif element analizi

  • Haritalama özelliÄŸi ile topografik sonuçlar ve element dağılımı gözlemleme

IMG_20190910_164008.jpg
IMG_20190910_170614.jpg

Masaüstü XRD MiniFlex 600 CÄ°HAZI

  • Kompakt, Emniyetli radyason kasası

  • DeÄŸiÅŸken giriÅŸ ışın sliti

  • Kolay kurulum ve kullanıcı eÄŸitimi

  • Hizalama gerektirmeyen gonyometre

  • Dizüstü bilgisayar ile kullanım ile 

  • Faz tanımlama

  • Kantitatif Faz analizi

  • Yüzde Kristalinite tayini

  • Kristal boyutu ve gerinimi

  • Kafes parametreleri düzeltmesi

  • Rietveld analizi

  • Moleküler yapı tayini yapılabilmektedir.

Masaüstü SEM  Phenom ProX CÄ°HAZI

  • Görüntüleme ve analiz için yüksek performanslı Elektron Mikroskobu

  • Işık optik büyütme : 20-135x

  • Elektron max.optik büyütme : 110.000x

  • BSD Dedektörüne sahip, Ä°steÄŸe baÄŸlı SED kullanılabilir.

  • Cihaza tam entegre EDS analizi ile kimyasal analiz

  •  ≤10 nm çözünürlük (BSE), ≤8 nm çözünürlük (SE).

  • 30 saniye yükleme süresi

  • Åžarj azaltma modu

  • Sınıfının en yüksek sayıda X-ışını üreten elektron kaynağı yüksek parlaklıktaki Seryum Hexaboride (CeB6) kaynağı.

  • Ayarlanabilir voltaj seçeneÄŸi ile 5, 10 ve 15 kV

  • Element algılama aralığı: C(6) - Am(95)

  • Elementel Haritalama ve Çizgisel Tarama

  • Malzeme özelliÄŸine göre numune tutucuları

IMG_20191010_165209.jpg
IMG_20191009_105437.jpg
IMG_20190910_164246.jpg

XRD Rigaku D / Max2200

  • Yatay bir gonyometre ile donatılmıştır.

  • Tarama hızı 0,002 °/dak ile 100 °/dak arasında deÄŸiÅŸebilir.

  • Sapma, saçılma ve alma slitleri tamamen otomatiktir ve yazılım içindeki bir grafiksel kullanıcı arayüzü ile kontrol edilir.

  • Cr Kα X-ışınları 2.29 A'nın dalga boyu, Scintag (Cu Kα 1.54 Å) veya Bruker (Co Kα 1.79 Å) cihazlarında yoÄŸun ÅŸekilde floresan olabilecek birçok malzeme için uygundur.

  • Kafes parametresindeki küçük deÄŸiÅŸiklikleri belirlemeye çalışırken daha büyük dalga boyu tercih edilir, çünkü tepe deÄŸerleri kafes parametresindeki küçük deÄŸiÅŸikliklere daha fazla hassasiyet saÄŸlayan daha yüksek 2θ deÄŸerlerine kaydırılır.

  • Tepe kaymanın hassasiyeti, artık gerilimi ölçmek ve ikili faz diyagramlarında solvus eÄŸrilerini belirlemek için idealdir.

Bruker D-8 Advance XRD CÄ°HAZI

  • EÅŸsiz toz kırınımı için Bragg-Brentano geometrisi

  • Optimum polikristal ince film kırınımı için otlatma insidansı geometrisi

  • XRR, 0.1 nm'den 150 nm'ye kadar film kalınlığını belirlemek için. X-ışını reflektometrisi (XRR), X-ışınlarının toplam dış yansımasının etkisini kullanarak ince katmanlı yapılar, yüzeyler ve arayüzleri araÅŸtırmak için kullanılan analitik bir tekniktir.  Teknik, toplam kalınlığı 20 A ila 1 mm arasında deÄŸiÅŸen filmler için kullanışlıdır. Filmler tek veya çok katmanlı yapılar olabilir ve ayrı ayrı katmanların kalınlığı, optik sabit düzeltmeler gerekmeden dakikalar içinde belirlenebilir. XRR, epitaksiyel, polikristal veya ÅŸekilsiz filmler için çalışır.Reflectometry, diÄŸerlerinin yanı sıra manyetik, yarı iletken ve optik malzemelerdeki tek ve çok katmanlı yapı ve kaplamaları karakterize etmek için kullanılır.

  • Rakipsiz enerji çözünürlüÄŸü ile veri toplanmasını hızlandırmak için LYNXEYE XE-T dedektör ile mikro-kırınım.                  LYNXEYE XE-T dedektör:

  • Enerji çözünürlüÄŸü <380 eV
    Piyasadaki diÄŸer 1D dedektörlerden 4 kat daha iyi!

  • Yüksek hızlı veri toplama
    Geleneksel nokta dedektör sisteminden 450 kata kadar daha hızlı!

  • Floresans ve beyaz ışınımın üstün filtrelenmesi
    Kß filtrelerine, aynalarına veya monokromatörlerine ihtiyacınız yoktur!

  • Mükemmel çizgi profil ÅŸekilleri
    Verilerde Kß filtre artefaktı (kalan Kß, emme kenarları) yoktur!

  • Üstün tepe-arka oran
    En iyi düÅŸük tespit limiti (LLOD) ve miktar belirleme (LLOQ)!

  • Ortam ve ortam dışı koÅŸullar altında amorf ve polikristalin ince film analizine otomatik geçiÅŸ fonksiyonu ile en iyi toz XRD performansının performansının kombinasyonu.

  • Mükemmel sayma istatistikleri daha hızlı veri toplanmasına ve daha fazla örnek verimine olanak saÄŸlar

  • Gürültülü düÅŸük açılı arka plan saçılması, büyük bir birim hücreye sahip olan ilaç, kil, zeolit ​​ve diÄŸer örneklerin veri kalitesini büyük ölçüde artırmaz

  • En iyi tepe-arka plan en küçük fazlar için hassasiyeti arttırır

  • DIFFRAC.TOPAS -Rietweld_yazılımı  ile kristalin ve amorf fazların tam miktar tayini

IMG_20190920_142445.jpg

ETÜVLER

A.Z. Ä°ÇÄ°N FIRIN

YAÅž YÖNTEMLE BOR ANALÄ°ZÄ°

  • Bor bileÅŸiklerindeki B2O3 miktarı YaÅŸ Yöntemle analiz edilmektedir.

bottom of page